紫光同芯新专利:革新芯片脉冲宽度测试 2024年末紫光同芯申请芯片脉冲宽度测试专利,有何亮点?

紫光同芯微电子有限公司在2024年12月申请了一项关于芯片脉冲宽度测试的专利,介绍了该专利的具体内容,还提及了紫光同芯微电子有限公司的基本信息。

在2025年4月5日,金融界传出一则消息。国家知识产权局的相关信息表明,紫光同芯微电子有限公司提出了一项意义非凡的专利申请。这项专利名为“用于芯片脉冲宽度的测试方法及装置和设备、测试机台”,其公开号为CN 119757883 A,申请日期定格在2024年12月。

从专利摘要中我们可以了解到,此申请与芯片测试技术领域紧密相关。它开创性地公开了一种用于芯片脉冲宽度的测试方法及相关装置、设备以及测试机台。具体来说,该测试方法包含以下几个关键步骤:首先,依据用户输入的配置信息,精心构建测试pattern。在这个测试pattern里,详细定义了对待测芯片进行测试时的设定电压、设定频率、多个模拟量档位以及待测芯片的输出管脚。接着,把构建好的测试pattern写入待测芯片的寄存器,然后认真采集输出管脚在每个模拟量档位下输出的低电平数量。最后,根据设定频率和每个模拟量档位下输出的低电平数量,精确计算出待测芯片在每个模拟量档位下的脉冲宽度。值得一提的是,这种测试方法能够有效提高芯片的脉冲宽度测试的效率。

通过天眼查的资料,我们对紫光同芯微电子有限公司有了更全面的认识。该公司成立于2001年,坐落于北京市,是一家专注于科技推广和应用服务业的企业。其企业注册资本高达100000万人民币,实缴资本为10000万人民币。经过天眼查的大数据分析,我们发现紫光同芯微电子有限公司有着丰富的商业活动。它一共对外投资了4家企业,参与招投标项目多达34次。在财产线索方面,拥有商标信息42条,专利信息更是多达812条。此外,企业还拥有6个行政许可。

本文介绍了紫光同芯微电子有限公司在2024年12月申请的芯片脉冲宽度测试专利,阐述了该专利的具体内容及能提高测试效率的优势,还介绍了该公司的基本信息和商业活动情况。

原创文章,作者:Serene,如若转载,请注明出处:https://www.qihaozhang.com/archives/12617.html

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